ADC

자동 결함 분류 (Automatic Defect Classification)

결함 검사 및 원인 분석은 반도체/FPD 제조 공정에서 중요한 부분을 차지하고 있습니다. ADC의 결함 유형 분류 기능은 제조 공정에서 발생한 문제의 원인 분석과 공정 개선 관련 정보를 제공합니다.

영상처리와 머신러닝 기법에 기반한 ADC는 결함 검사를 위한 휴먼 리소스를 줄이고 검사의 품질을 높여 궁극적으로 수율을 향상시킬 수 있습니다.